筆記本、電池及其他精密電子產(chǎn)品在裝配后，可能因外殼、轉(zhuǎn)軸、結(jié)構(gòu)件、內(nèi)部組件或裝配間隙等原因，在按壓、搖晃及扭動(dòng)時(shí)產(chǎn)生異常聲響。

這類(lèi)結(jié)構(gòu)異響往往具有聲音小、出現(xiàn)位置不固定、人工判斷主觀性強(qiáng)等特點(diǎn)，同時(shí)測(cè)試設(shè)備自身的機(jī)械運(yùn)行噪聲也可能干擾檢測(cè)結(jié)果。

因此，除了建立穩(wěn)定的隔音測(cè)試環(huán)境，還需要通過(guò)低噪聲運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)和精準(zhǔn)的聲音采集方式，對(duì)產(chǎn)品不同位置、不同受力狀態(tài)下產(chǎn)生的噪聲進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)。原方案的設(shè)備改造目標(biāo)，就是將機(jī)構(gòu)運(yùn)行噪聲控制在約28dBA，以減少測(cè)試設(shè)備自身對(duì)結(jié)果的影響。

針對(duì)筆記本電腦、電池等產(chǎn)品在裝配及結(jié)構(gòu)受力過(guò)程中出現(xiàn)的異響、摩擦聲、結(jié)構(gòu)噪聲等問(wèn)題，奧普新提供筆記本&電池按壓噪聲測(cè)試解決方案。

系統(tǒng)采用多只高精度麥克風(fēng)采集產(chǎn)品在按壓、搖晃、扭擺等模擬工況下產(chǎn)生的聲音，通過(guò)聲學(xué)分析軟件對(duì)噪聲進(jìn)行量化和判定，將傳統(tǒng)依賴人工聽(tīng)音的結(jié)構(gòu)異響檢測(cè)轉(zhuǎn)化為標(biāo)準(zhǔn)化、可重復(fù)的測(cè)試方式。

測(cè)試原理

測(cè)試時(shí)，將筆記本或電池產(chǎn)品固定于定制測(cè)試平臺(tái)，通過(guò)仿真機(jī)構(gòu)模擬實(shí)際使用中的不同受力狀態(tài)。

按壓測(cè)試：
按壓機(jī)構(gòu)按照設(shè)定位置和壓力作用于產(chǎn)品表面，麥克風(fēng)與按壓機(jī)構(gòu)聯(lián)動(dòng)，實(shí)時(shí)采集產(chǎn)品受力過(guò)程中產(chǎn)生的聲音。按壓位置可通過(guò)紅外定位輔助控制，并可根據(jù)不同測(cè)試需求更換壓頭。

搖晃 / 扭擺測(cè)試：
通過(guò)低噪聲驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)模擬產(chǎn)品搖晃或扭擺狀態(tài)，上下布置的測(cè)試麥克風(fēng)同步采集結(jié)構(gòu)運(yùn)動(dòng)過(guò)程中產(chǎn)生的異常聲音。

軟件可對(duì)采集到的噪聲dB值及噪聲曲線進(jìn)行分析，并根據(jù)預(yù)設(shè)上下限自動(dòng)判定產(chǎn)品是否合格、保存測(cè)試數(shù)據(jù)。

測(cè)試配置

本方案主要配置：

AD1000-4電聲測(cè)試儀 + MIC-20高精度測(cè)試麥克風(fēng) + 定制隔音測(cè)試箱 + 仿真按壓機(jī)構(gòu) + 搖晃/扭擺模塊 + 定制固定平臺(tái) + 電控系統(tǒng) + Multicheck測(cè)試軟件。

其中可根據(jù)項(xiàng)目實(shí)際需求選擇按壓模塊、搖晃模塊等不同機(jī)械機(jī)構(gòu)，并針對(duì)運(yùn)動(dòng)噪聲進(jìn)行低噪聲優(yōu)化。

奧普新可根據(jù)客戶的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、異響位置、按壓力度、運(yùn)動(dòng)方式、噪聲限值、測(cè)試節(jié)拍及自動(dòng)化要求，定制隔音環(huán)境、運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)、麥克風(fēng)位置、測(cè)試治具及軟件判定邏輯，形成匹配產(chǎn)品實(shí)際使用場(chǎng)景的噪聲測(cè)試解決方案。